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Qingxiao Zhu1,2, Lihua Xu1,2, Zhidao Zhou1,2
1State Key Lab of Fabrication Technologies for Integrated Circuits, Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, People's Republic of China.
本研究探讨了透传输如何影响铁电场效应晶体管 (FeFET) 多值存储. 降低尺寸比提高了FeFET偏振,减少了设备变异,并增强了可靠计算的状态分离.
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