在多维干扰测量测量系统中,机器上分离和补偿目标镜的表面形状错误
Zuyang Zhang1,2, Qiangxian Huang1,2, Jun Lu1,2
1School of Instrument Science and Opto-Electronic Engineering, Hefei University of Technology, Hefei 230009, China.
The Review of scientific instruments
|January 8, 2025
概括
本研究提出了一种新的方法,用于分离和补偿多维干扰测量中的目标镜误差. 该技术通过将平度误差从175nm降低到77nm,显著提高了测量精度.
科学领域:
- 计量学 计量学 计量学
- 纳米技术纳米技术
- 光学工程是指光学工程.
背景情况:
- 干扰测量对于多维纳米定位和纳米测量设备至关重要.
- 目标镜被用作空间参考平面,但它们的表面误差限制了测量准确性.
- 现有的方法很难将目标镜错误与工件尺寸分离.
研究的目的:
- 开发一种用于机器上分离和补偿目标镜表面形状错误的方法.
- 为了提高多维干扰系统的整体测量精度.
- 为实际应用提供可靠的补偿模型.
主要方法:
- 使用微纳米坐标测量机 (MNCMM) 进行干扰测量.
- 使用自制的共振探头和参考平板晶体进行错误分离.
- 实现基于衍生模型的空间错误补偿的插值算法.
主要成果:
- 成功分离并补偿了目标镜面形状错误.
- 将标准平晶的平度测量误差从175nm降低到77nm.
- 证明了拟议的机器内补偿方法的可靠性和有效性.
结论:
- 开发的方法有效地弥补了干扰测量系统中目标镜面错误.
- 这种方法显著提高了多维计量学的精度.
- 该技术广泛适用于纳米测量器件中的各种机器补偿场景.
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