Field Effect Transistor
Biasing of FET
MOSFET: Enhancement Mode
MOSFET: Depletion Mode
MOSFET
Biasing of Metal-Semiconductor Junctions
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Jiajia Chen1,2, Jiacheng Xu3, Jiani Gu4
1Hangzhou Institute of Technology, Xidian University, Hangzhou, 311231, China.
本研究介绍了一种使用铁电场效应晶体管的新型低功耗边缘检测硬件系统. 该系统为资源有限的边缘计算环境提供高效,准确的图像处理.
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主要成果:
结论: