使PI-DEIM

Minyoung Yun1, Mikhael Tannous1, Chady Ghnatios2

  • 1PIMM Research Laboratory, UMR 8006 CNRS-ENSAM-CNAM, Arts et Metiers Institute of Technology, 151 Boulevard de l'Hôpital, 75013 Paris, France.

PubMed
概括

本研究介绍了一种新的混合传感器方法,用于精确定位关键位置和检测结构缺陷. 结合离散实证插值 (DEIM) 和顺序重要性 (PI) 产生了最准确的缺陷检测与最小的错误.