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Miroslav Hekrdla1, David Roesel2, Niklas Hansen2,3
1J. Heyrovský Institute of Physical Chemistry, Czech Academy of Sciences, Prague, Czechia. miroslav.hekrdla@jh-inst.cas.cz.
我们开发了一种针对单分子局部化显微镜 (SMLM) 的优化分子检测方法. 这种方法可以控制错误的阳性结果,并最大限度地减少错误的阴性结果,从而实现可靠,可重复的SMLM数据分析.
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结论: