Xuefan Yin1, Takuya Inoue1, Chao Peng2,3

  • 1Department of Electronic Science and Engineering, Kyoto University, Kyoto-Daigaku-Katsura, Nishikyo-ku, Kyoto, 615-8510, Japan.

PubMed
概括

我们引入了拓电荷的新定义,以分析光子晶片中的偏振缺陷. 这些缺陷是由模式交叉和对称性破坏引起的,在动量空间中遵守局部保存定律.