对顺序辐射和NBT压力VDMOS晶体管的恢复分析
Snežana Djorić-Veljković1, Emilija Živanović2, Vojkan Davidović2
1Faculty of Civil Engineering and Architecture, University of Niš, Aleksandra Medvedeva 14, 18104 Niš, Serbia.
本研究研究了负偏差温度 (NBT) 应力和辐射如何影响VDMOS晶体管,揭示了复杂的降解和恢复机制,影响设备寿命和性能,特别是在脉冲操作下.
科学领域:
- 半导体设备物理学 半导体设备物理
- 材料科学是一种材料科学.
背景情况:
- 在功率电子中,VDMOS晶体管至关重要.
- 了解压力影响对于可靠性至关重要.
研究的目的:
- 调查NBT应力和辐射对VDMOS值电压 (VT) 的影响.
- 分析退化,恢复和操作行为.
- 预测组合应力下的设备寿命.
主要方法:
- 应用负偏差温度 (NBT) 应力和辐射.
- 测量值电压转移 (ΔVT) 和子值特征.
- 分析压力后的恢复和运营绩效.
主要成果:
- 在NBT和辐射中观察到的明显的降解和回收机制.
- 电化学过程会影响后续的应激反应.
- 预应力设备表现出增强的自我加热和热不稳定性.
结论:
- 压力诱导的降解和恢复机制是复杂的和相互依赖的.
- 下值特征提供了对缺陷动态的洞察力.
- 优化VDMOS可靠性需要了解这些压力对先进系统的影响.
更多相关视频
11:33All-electronic Nanosecond-resolved Scanning Tunneling Microscopy: Facilitating the Investigation of Single Dopant Charge Dynamics
Published on: January 19, 2018
09:49In Situ Transmission Electron Microscopy with Biasing and Fabrication of Asymmetric Crossbars Based on Mixed-Phased a-VOx
Published on: May 13, 2020
相关概念视频
Bipolar Junction Transistor
Small-Signal Analysis of MOSFET Amplifiers
Modeling of Diode Forward Characteristics
Modeling of Diode Reverse Characteristics
When a reverse voltage applied to a Zener diode exceeds its breakdown voltage, the diode enters the breakdown region. At this point, the...
Small-Signal Analysis of BJT Amplifiers
MOSFET: Depletion Mode
The primary characteristic of depletion-mode MOSFETs is their ability to conduct current between the drain and source terminals without gate bias. This inherent conductivity...
