Xin Yu1, Xingyue Wang1, Jing Liang2

  • 1School of Optoelectronic Engineering, Changchun University of Science and Technology, Changchun 130022, China.

Micromachines
|January 25, 2025
PubMed
概括

这项研究引入了一种新的方法,使用联成像和微纳米光学来检测相位光纤激光阵列中的倾斜偏差. 该系统实现了高精度,简化了激光系统的偏差检测.

相关概念视频