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Updated: Jun 20, 2026
10:53
Scanning-probe Single-electron Capacitance Spectroscopy
Published on: July 30, 2013
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在交叉条形探测器中,由于质子辐射引起的孔陷产生的特征
Sean N Pike1, Steven E Boggs1,2, Gabriel Brewster1
1Department of Astronomy & Astrophysics, University of California, San Diego, 9500 Gilman Drive, La Jolla, 92093 CA USA.
Experimental astronomy
|January 27, 2025
概括
高能质子损伤会在探测器中产生电荷陷. 在未受损的探测器中,电子陷占主导地位,而质子辐射线性地增加了孔陷密度.
科学领域:
- 探测器物理学的物理
- 粒子物理学的粒子物理学.
- 材料科学 是一种材料科学.
背景情况:
- 交叉条形探测器对于高能物理学至关重要.
- 质子损伤可以通过电荷捕获降低探测器性能.
- 了解电荷捕获对于准确的测量至关重要.
研究的目的:
- 研究高能质子损伤对探测器电荷捕获的影响.
- 量化从质子辐射产生电荷陷的速率.
- 校准探测器以减轻捕捉诱导的光谱分辨率退化.
主要方法:
- 备用COSI气球探测器的校准光谱分辨率.
- 进行了两轮的质子辐射.
- 测量了物理捕获参数,并应用了校准校正.
主要成果:
- 由于杂质导致的电子捕获在未损坏的探测器中占据主导地位.
- 质子辐射产生电荷陷,孔陷密度与流动性线性增加.
- 遵循与的线性关系,其斜率为 .
结论:
- 质子辐射显著影响探测器中的电荷捕获.
- 该研究量化了陷生产率,使得检测器可以更好地建模.
- 基于测量的捕获参数进行校准,成功地减轻了光谱分辨率的退化.
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