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Rohan Ingle1, Aniket K Shahade1, Mayur Gaikwad1
1Symbiosis Institute of Technology, Pune Campus, Symbiosis International (Deemed University), Pune, Maharashtra, India.
使用深度学习对晶片的自动缺陷检测显著提高了集成电路的质量. 这项研究实现了精确的缺陷细分和分类,简化了制造过程.
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研究的目的:
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主要成果:
结论: