X线X线

Dian Lu1,2, Zhifeng Cheng3, Tianlei Zhao4

  • 1Institute of Plasma Physics, HFIPS, Chinese Academy of Science, Hefei 230031, China.

概括

这项研究评估了使用X射线微波测量 (XRD) 的托卡马克X射线水晶光谱 (XCS) 的高定向烧化石墨 (HOPG) 反射器. 该方法精确地测量HOPG性能,帮助未来的诊断系统设计.