基于人工智能的非侵入性成像技术用于早期自闭症谱系障碍诊断:简要的回顾和未来的方向

Mostafa Abdelrahim1, Mohamed Khudri1, Ahmed Elnakib2

  • 1Bioengineering Department, University of Louisville, Louisville, KY 40292, USA.

概括

早期发现自闭症谱系障碍 (ASD) 是至关重要的. 本综述探讨了包括结构性MRI和AI在内的非侵入性成像技术,以改善婴儿和儿童的ASD早期诊断.