超光谱深度学习模型的高成本培训,用于通过光标记来检测散装麦中的污染谷物

Emma Van Puyenbroeck1, Wouter Saeys1

  • 1KU Leuven, Department of Biosystems, Mebios, Kasteelpark Arenberg 30, B-3001 Leuven, Belgium; Leuven Plant Institute (LPI), KU Leuven, B-3001 Leuven, Belgium.

概括

光涂料有效地标记了拼写内核用于高光谱成像,改善了谷物分析的深度学习模型. 这种方法减少了手动数据标签,以更准确地检测麦中的污染物.