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Yichi Zhang1,2,3, Fen Tao1,2,3, Ruoyang Gao1,2,3
1Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, China.
这项研究引入了一种新的定量方法,用于使用K-边缘减去 (KES) 断层扫描进行元素分析. 该技术以高精度实现纳米级元素成像,使精确的元素组成评估成为可能.
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主要成果:
结论: