跨导管大动脉植入过程中的周围手术性脑脱和手术后妄想之间的关联:一项前性观察性研究
Hulya Yilmaz Ak1, Baris Sandal2, Yasemin Ozsahin3
1Department of Anesthesiology and Reanimation, Kartal Dr. Lutfi Kirdar City Hospital, Kartal, Istanbul, 34865, Turkey. hulyayilmazak@gmail.com.
BMC anesthesiology
|February 20, 2025
概括
在跨导管大动脉植入 (TAVI) 过程中,低脑氧和门放置与术后狂妄症 (POD) 有关. 近红外光谱 (NIRS) 可能有助于预测TAVI患者的POD风险.
科学领域:
- 心脏病学 心脏病学
- 神经学 神经学
- 医疗器械 医疗器械
背景情况:
- 过导管大动脉植入 (TAVI) 是一种常见的手术.
- 手术后痴呆症 (POD) 是TAVI患者的一个重大问题.
- 大脑的氧气和可能在POD发育中起作用.
研究的目的:
- 调查TAVI门放置期间脑氧和度降低与POD发生之间的关系.
- 确定区域大脑氧和 (rScO2) 水平是否可以预测POD风险.
主要方法:
- 最初包括50名接受TAVI治疗的患者.
- 在多个时间点使用近红外光谱 (NIRS) 测量区域大脑氧和 (rScO2).
- 使用重症监护病房 (ICU-CAM) 混乱评估方法评估术后妄想.
主要成果:
- 这项研究包括41名患者.
- 观察到POD发生率为29.3%.
- 在发生POD的患者中,在门安置期间,与没有发生POD的患者相比,记录了显著较低的rScO2值.
结论:
- 在TAVI门放置期间的低rScO2与POD的风险增加有关.
- 在TAVI期间,NIRS可以作为评估POD风险的有价值工具.
- 需要进一步的研究来确认NIRS在TAVI中用于POD预测的常规临床实用性.


