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Sai Zhang1, Haitao Li2, Pengfei Ren1
1China Automotive Technology and Research Center Co., Ltd, Tianjin, 300300, China.
本研究引入了一种深度学习模型,用于自动检测件中的小缺陷,提高精度和效率. 新的BiSDE架构增强了微小缺陷的检测,超过了当前最先进的模型.
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