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Somnath Ghosh1, Saikat Dan2, Preetam Tarafder2
1Civil & Systems Engineering, Johns Hopkins University, Baltimore, MD, 21218, USA. sghosh20@jhu.edu.
本研究介绍了一种新的数字双胞胎 (DT),用于实时检测压电复合材料的损坏. 先进的DT集成了微观细节和机器学习,使用电信号预测结构损坏.
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