具有早期精神分裂症的青少年工作记忆缺陷背后的动态功能连接体配置
Peng Cheng1, Zhening Liu1, Feiwen Wang1
1Department of Psychiatry, National Clinical Research Center for Mental Disorders, and National Center for Mental Disorders, The Second Xiangya Hospital of Central South University, Changsha 410011, Hunan, China.
患有早期精神分裂症 (EOS) 的青少年在工作记忆任务中显示出大脑活动的改变. 这项研究揭示了神经资源分配受损,代谢过程可能是其缺陷的基础.
科学领域:
- 神经科学是一个神经科学.
- 精神病学是一个精神病学.
- 计算神经科学是一种神经科学.
背景情况:
- 工作记忆 (WM) 依赖于动态的大脑网络重新配置.
- 早期精神分裂症 (EOS) 中WM缺陷的神经动力学尚不清楚.
- 患有EOS的青少年对WM有不成熟的神经基质.
研究的目的:
- 在WM任务期间调查EOS青少年的动态功能连接体.
- 在EOS中确定WM缺陷的神经相关物.
- 探索这些缺陷的分子基础.
主要方法:
- 在一个n-back任务中,使用动态voxel-wise度中心性 (dDC) 来分析51名患有EOS的青少年和45名健康对照 (HC) 的全脑功能连接体.
- 评估了dDC随时间变化的变化和集群元状态的群体差异.
- 相关性分析将大脑活动与临床症状和WM表现联系起来.
主要成果:
- 没有发现dDC总体时间变化的不稳定性的群体差异.
- 在增加WM负载期间,EOS青少年在包括左侧胰岛,小脑,下叶和下额头 (IFG) 在内的区域呈现dDC降低.
- 丰富分析表明,这些区域参与了突触功能,神经元通信和代谢过程.
结论:
- 这是第一个在WM任务期间检查异常的时间变化的大脑连接组模式和EOS中的分子支柱的研究.
- 关键大脑网络和相关的代谢过程中神经资源分配受损可能会导致EOS中的WM缺陷.
- 结果为有针对性的干预和EOS的未来研究提供了洞察力.
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