NiO/Cu

Biswajit Sahoo1,2, Christopher Safranski1, Guohan Hu1

  • 1IBM T. J. Watson Research Center, Yorktown Heights, New York 10598, United States.

Nano letters
|March 4, 2025
PubMed
概括

这项研究表明,铜层增强了基于NiO的设备中的自旋电流传输,这对于可靠的纳米磁铁内存至关重要. 这为先进的自旋电子应用改进了电荷-自旋分离.