植入芯片设备的I型干扰素暴露会改变侵入性外性热囊细胞功能

Michael K Simoni1, Seble G Negatu2, Ju Young Park3

  • 1Department of Obstetrics and Gynecology, Hospital at the University of Pennsylvania, Philadelphia, PA 19104, USA.

PubMed
概括

过度的I型干扰素 (IFN) 信号损害了胚胎植入,减少了 trofhoblast 侵袭和血管重塑. 这种功能障碍可能会导致孕前的发展.