在热力学负载后,近端盒子升高对3Y-TZP陶固定牙假肢微漏的影响:实验室研究
Monika Roider1, Matthias Kern2, Nicole Passia3
1Doctoral student, Department of Prosthodontics, Propaedeutics and Dental Materials, Christian-Albrechts University at Kiel, Kiel, Germany.
The Journal of prosthetic dentistry
|March 7, 2025
概括
与传统方法相比,固定牙假肢中的近接盒升高 (PBE) 显示了微漏的增加. 粘合剂与牙的粘合是限制这两种技术恢复成功的关键因素.
科学领域:
- 牙科材料科学 牙科材料科学
- 牙修复 牙修复 牙修复 牙修复 牙修复
- 生物材料工程 生物材料工程
背景情况:
- 固定牙假肢 (FDP) 的支柱牙深部下缺陷是一个临床挑战.
- 传统的治疗方法,如外科冠状延长或正牙挤出有缺点,包括时间,成本和手术并发症.
- 靠近盒子升高 (PBE) 是一个建议的替代方案,但其微泄漏行为需要调查.
研究的目的:
- 为了评估使用近距离盒子升高 (PBE) 和传统基础修复的3mol%伊特里亚稳定四角聚晶 (3Y-TZP) 陶FDP的微泄漏.
- 评估热力学负荷 (TML) 对这些FDP中的微泄漏的影响.
主要方法:
- 制造固定到固定和悬臂3Y-TZP陶FDP在牙和前牙上.
- 使用自蚀刻粘合剂和双聚合复合树脂放置近接基础修复.
- 在四个接口 (TC,CR,TB,BC) 进行光显微镜下对FDP进行120万次热力学负荷 (TML) 循环,然后对染料透率进行评估.
主要成果:
- 与对照组 (P<.05) 相比,近距离盒子升高 (PBE) 组显示了微泄漏的统计学上显著差异.
- 在所有PBE标本中,在牙和基础修复 (TB) 接口检测到微小漏洞,在84.4%的对照标本中,在牙和化复合树脂 (TC) 和TB接口检测到微小漏洞.
- 对牙 (TB和TC接口) 的粘合键被确定为PBE和传统修复中微漏的关键因素.
结论:
- 基础修复和化复合树脂对牙的粘合键是PBE和FDP传统基础修复中微漏的限制因素.
- 与传统的基础修复技术相比,近接盒子升高 (PBE) 显示出更高的微漏漏易感性.
