圆束计算机断层扫描是否准确地预测下膜神经在下第三取取过程中的暴露?
Kenan Chen1, Youbai Chen2, Peng Chen3
1Department of Oral and Maxillofacial Surgery, Peking University School and Hospital of Stomatology & National Center of Stomatology & National Clinical Research Center for Oral Diseases & National Engineering Research Center of Oral Biomaterials and Digital Medical Devices & Beijing Key Laboratory of Digital Stomatology & Research Center of Engineering and Technology for Computerized Dentistry, Ministry of Health & NMPA Key Laboratory for Dental Materials, Beijing, P.R. China.
BMC oral health
|March 7, 2025
概括
圆束计算机断层扫描 (CBCT) 可以预测下膜神经 (IAN) 暴露在下三提取过程中. 在CBCT上皮质缺陷长度准确预测IAN暴露,而非水平冲击带来更高的风险.
科学领域:
- 口腔和牙面部外科手术
- 放射学 放射学是一门学科.
- 牙科成像 牙科成像 牙科成像
背景情况:
- 评估下膜神经 (IAN) 的近距离对于安全的下第三 (M3M) 提取至关重要.
- 形束计算断层扫描 (CBCT) 广泛用于术前规划.
- 对于IAN暴露的CBCT的预测准确性需要进一步评估.
研究的目的:
- 评估CBCT在预测M3M提取过程中IAN暴露的准确性.
- 将CBCT测量与直接内镜观察进行比较.
- 确定影响IAN暴露风险的因素.
主要方法:
- 在CBCT上被怀疑接近IAN的115个M3M进行了提取.
- 手术前的CBCT变量包括机器类型,冲击分类和根/皮层缺陷大小.
- 通过内镜记录了手术内IAN暴露和神经血管束大小.
- 统计分析包括t测试,布兰德-阿尔特曼,回归,奇平方和ANOVA.
主要成果:
- IAN暴露发生在73.9%的患有手术前CBCT症状的病例中.
- 内镜IAN测量比CBCT根测量小,但比CBCT皮质缺陷测量大.
- 在CBCT上皮质缺陷的长度与IAN暴露有显著的相关性 (OR=1.38,P=0.001).
- 非水平冲击显示IAN暴露的可能性更高 (P<0.05).
结论:
- 牙与IAN接触的CBCT迹象并不总是表明手术期间的暴露.
- 在CBCT上皮质缺陷的长度是IAN暴露的更准确的预测指标,而不是根的大小.
- 非水平冲击增加了手术内IAN暴露的风险.
- 内镜观察为IAN暴露评估提供了直接数据.
