在最近的耳植入物系列中对设备故障的多机构分析
Michael H Freeman1, Nathan R Lindquist, James R Dornhoffer2
1Department of Otolaryngology-Head and Neck Surgery, Vanderbilt University Medical Center, Nashville, Tennessee.
概括
先进的Bionics HiRes Ultra (V1) 耳植入器设备显示出显著的失败率,超过42%的设备在7年内失败. 修复手术通常可以恢复失败前的语音表现,但失败检测存在机构的变化.
科学领域:
- 耳鼻喉科 耳鼻喉科 耳鼻喉科
- 生物医学工程 生物医学工程
- 神经科学是一个神经科学.
背景情况:
- 耳植入器设备的寿命对于长期的听力康复至关重要.
- 了解设备故障率和模式对于患者管理和设备开发至关重要.
研究的目的:
- 为了评估先进生物技术 (AB) HiRes Ultra和Ultra 3D初始版本 (V1) 耳植入物电极的故障率.
- 在多个大容量耳植入中心分析设备随时间的故障.
主要方法:
- 追溯队列研究涉及接受AB HiRes Ultra和Ultra 3D (V1) 设备的患者.
- 截至2022年12月31日,从四个高等推中心收集的数据.
- 对失败率,修复手术和语音识别分数的分析.
主要成果:
- 在7年内,42.6% (205/483) 的V1设备出现故障,机构率从32%到67%不等.
- 修复手术是在79%的失败中进行的,主要是使用AB设备.
- 大多数患者 (89.8%) 在修改后恢复或超过了失败前的言语表现,CNC得分有显著的改善.
结论:
- 在多个中心确认了AB HiRes Ultra (V1) 耳植入器的持续设备故障.
- 在设备故障率和检测方面存在显著的机构间差异,可能与成像协议有关.
- 重新植入通常会恢复失败前的听觉表现,强调及时干预的重要性.
