Metal-Semiconductor Junctions
Ferromagnetism
Fermi Level Dynamics
MOSFET: Enhancement Mode
Biasing of Metal-Semiconductor Junctions
Field Effect Transistor
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Yifei Hao1, Tianlin Li1, Xia Hong1
1Department of Physics and Astronomy & Nebraska Center for Materials and Nanoscience, University of Nebraska-Lincoln, Lincoln, NE, 68588-0299, USA. xia.hong@unl.edu.
铁电矿氧化物通过接口合使新的电子和纳米光子学成为可能. 这篇评论探讨了异构结构,新兴现象以及内存和光学设备中的应用.
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