KNN广

Yi Quan1, Jie Xing2, Chunlong Fei1

  • 1Faculty of Intergrated Circuit, Xidian University, Xi'an 710071, China.

概括

这项研究开发了先进的无酸 (KNN) 陶和超声波传感器,用于高分辨率非破坏性测试 (NDT) 成像. 这些新设备保持了高达120°C的性能,使NDT能够在具有挑战性的热环境中使用.