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Updated: May 21, 2025
08:14
Atom Probe Tomography Analysis of Exsolved Mineral Phases
Published on: October 25, 2019
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一种有效的方法来准备高质量的原子探头断层扫描样本的双相Ti合金
Ruiqing Lu1,2, Felix Theska2, Shenglu Lu3
1School of Aerospace, Mechanical and Mechatronic Engineering, The University of Sydney, Sydney, NSW 2006, Australia.
概括
这项研究引入了一种更快的方法,用于制备双相 (Ti) 合金的原子探头断层扫描 (APT) 样本. 结合电抛光和聚焦离子束 (FIB) 环状削,可将准备时间减少40%,同时保持样品质量.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 分析化学 分析化学
- 金工业是金工业的一个方面.
背景情况:
- 原子探头断层扫描 (APT) 对双相Ti合金的样品准备具有挑战性.
- 现有的聚焦离子束 (FIB) 提升方法耗时,需要大量的专业知识.
研究的目的:
- 开发一种更有效,更可靠的方法来制备双相Ti合金的APT样品.
- 为了减少 APT 样本准备所需的时间和专业知识.
主要方法:
- 开发了一种结合电抛光和FIB环状削的新方法.
- 电抛光用于预先利APT尖端.
- 在精细抛光中使用了FIB环形削.
主要成果:
- 与传统的FIB提升技术相比,联合方法将样品准备时间减少40%.
- 实现了类似的背景噪音和质量分辨率.
- 在质谱中观察到热尾的减少.
结论:
- 新的电抛光和FIB环状削方法为双相Ti合金的APT样品准备效率提供了显著的改善.
- 这种技术保持了高样本质量,使其成为现有方法的可行替代方案.
