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Q Le Thien1,2, R Pynn1, G Ortiz1,2,3

  • 1Indiana University, Department of Physics, Bloomington, Indiana 47405, USA.

PubMed
概括

我们开发了纠束反射计,以分析材料表面. 这种技术使用纠的探测器以高精度揭示空间结构,包括磁性质.