Atomic Force Microscopy
Super-resolution Fluorescence Microscopy
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Jie Xu1, Jindong Tian2,3
1College of Physics and Optoelectronic Engineering, Shenzhen University, Shenzhen, 518060, China.
深度学习显著增强了边缘投影特征测量,使得超快的3D成像能够以每秒10万的速度进行. 这一突破允许在高速短暂事件中进行高分辨率测量.
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主要成果:
结论: