基于二维位置敏感探测器及其精度分析的扫描镜基准测试平台
Hexiang Guo1, Junya Wang1, Zheng You1
1School of Mechanical Science and Engineering, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, China.
Micromachines
|March 27, 2025
概括
这项研究引入了一个新的基准平台,用于准确测量微电机系统 (MEMS) 扫描镜的性能. 开发的系统精确量化了偏斜角度,共振频率和角分辨率,用于先进的应用.
科学领域:
- 光电学是指光电子产品.
- 机械工程 机械工程
- 微系统工程 微系统工程
背景情况:
- 微电机系统 (MEMS) 扫描镜是激光雷达,医疗成像和激光投射显示器中的关键组件.
- 精确测量MEMS扫描镜指数对于性能验证和定义应用场景至关重要.
研究的目的:
- 设计和建造一个用于精确,二维测量MEMS扫描镜参数的基准平台.
- 分析开发的测量系统的角测试不确定性.
主要方法:
- 使用二维位置敏感探测器 (PSD) 创建一个扫描镜基准平台.
- 开发了用于测量偏斜角度,共振频率和角分辨率的特定测试程序.
- 计算的角测试不确定性,考虑到光学对齐和PSD测量错误.
主要成果:
- 该平台准确地测量MEMS扫描镜参数,包括偏移角度,共振频率和角分辨率.
- 在PSD和镜子之间的距离为100毫米时,可测量的偏斜角度从-6.34°到+6.34°不等.
- 达到高精度,测量0.00097°在0.01°偏斜和0.011°在6.34°偏斜.
结论:
- 设计的基准平台为MEMS扫描镜性能提供了准确可靠的测量.
- 这种高精度系统可以有效地验证MEMS扫描镜在各种应用中的性能和适用性.
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