Fineness Modulus
Molar Mass
Ammeter
Measurement: Standard Units
MOSFET Amplifiers
Motional Emf
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William Pollock1,2, Joseph Wartman2
1Shannon & Wilson, Inc., 400N 34th St., Suite 100, Seattle, WA 98103, United States.
本研究提出了一个新的,适应性的区域滑坡风险分析框架,使得全球的土地利用规划和危险减轻更好. 它使用遥感和模块化方法进行高效的,无定位风险估计.
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