Biasing of Metal-Semiconductor Junctions
Biasing of P-N Junction
P-N junction
Biasing of FET
MOSFET: Enhancement Mode
Metal-Semiconductor Junctions
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Burm Baek1, Michael L Schneider1, Matthew R Pufall1
1National Institute of Standards and Technology, Boulder, CO 80305 USA.
我们研究了磁性约瑟夫森连接与屏障,观察振荡的关键电流. 异常特征表明这些磁器具有独特的微观传输效应.
科学领域:
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