Feedback Inhibition
P-N junction
Metal-Semiconductor Junctions
Biasing of Metal-Semiconductor Junctions
Field Effect Transistor
Biasing of FET
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Yunxia Feng1,2, Jinwei Chen1, Ioan Bâldea3
1Department of Materials Science and Engineering, Guangdong Provincial Key Laboratory of Materials and Technologies for Energy Conversion, Guangdong Technion-Israel Institute of Technology, Shantou, Guangdong 515063, China.
在分子道连接处的金属分子接触不是独立的. 尖端电极的选择显著影响基板电极的合,揭示了这些电子设备的意想不到的复杂性.
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