SIMS使:Olivine Mg

Keita Itano1, Kohei Fukuda2, Noriko T Kita3

  • 1Department of Mathematical Science and Electrical-Electronic-Computer Engineering, Akita University, Akita, Japan.

概括

高斯过程回归 (GPR) 在二次离子质谱 (SIMS) 分析中准确地纠正矩阵效应. 这种强大的方法量化了预测不确定性,提高了外星物质分析的准确性.