深角膜神经复合体选择性损伤在持续的神经损伤角膜上皮缺陷检测通过体内多光子共聚焦显微镜

Seitaro Komai1,2, Manuel E Quiroga-Garza1,2, Raul E Ruiz-Lozano1,2

  • 1Foster Center for Ocular Immunology, Duke Eye Center, Department of Ophthalmology, Duke University School of Medicine, Durham, North Carolina, United States.

概括

这项研究表明,甲 (BAK) 在持续的上皮缺陷中损害角膜侧向神经. 使用多光子共聚焦显微镜 (MCM) 和CGRP:GFP Tg小鼠的体内成像系统可视化了这种神经损伤和功能损失.

相关概念视频