基于X射线密度记录测量方法的石质学和泥饼校正方法的研究
Guobin Liu1, Quanying Zhang1, Qian Chen2
1College of Geophysics and Petroleum Resources, Yangtze University, Wuhan, 430100, China; Key Laboratory of Exploration Technologies for Oil and Gas Resources (Yangtze University), Ministry of Education, Wuhan, 430100, China.
概括
X射线密度记录受到石质学和泥蛋糕的影响. 使用组合能量窗口和特定的泥饼校正公式可以提高石油勘探的准确性.
科学领域:
- 石油工程是石油工程中的一个.
- 地理学井的记录记录时间
- 核电日志记录 核电日志记录
背景情况:
- 对于石油行业来说,X射线密度记录至关重要.
- 与传统方法不同,X射线密度记录容易受到泥和石质学变化的影响.
研究的目的:
- 分析石质学和泥对X射线密度记录的影响.
- 在X射线密度记录中开发石学和泥饼效应的校正方法.
主要方法:
- 蒙特卡洛模拟被用来建模物理过程.
- 进行了光谱数据分析和补偿算法的开发.
主要成果:
- 石化学对整个能量频谱产生重大影响,使单一能量窗口的修正变得无效.
- 结合高和低能量的窗口,有效地减少了石质学影响,以获得准确的密度.
- 泥蛋糕效应不同于传统的伐木,需要特定区域的补偿公式.
结论:
- 精确的X射线密度记录需要解决石质学和泥的影响.
- 提出的方法为处理X射线密度记录数据提供了理论指导.
- 这项研究通过提高采伐精度来支持石油行业的可持续发展.
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