实时监控工业规模的多颗粒涂层过程,使用超高分辨率光学连贯性断层扫描

科学领域:

• 制药制造业 制药制造业 制药制造业
• 过程分析技术 过程分析技术
• 涂层技术的涂层技术

背景情况:

• 光学一致性断层扫描 (OCT) 显示出对监测制药薄膜涂层的前景.
• 目前的OCT应用面临着多颗粒系统的局限性.
• 需要在实时,在线监测小颗粒和薄涂层方面取得进展.

研究的目的:

• 开发和展示一种新的超高分辨率OCT (UHR-OCT) 接口,用于在线监测多颗粒涂层过程.
• 为了实现实时,自动化对小颗粒的涂层厚度评估.
• 为了证明系统的稳定性,批量尺寸独立性和工业翻译性.

主要方法:

• 使用一个行业准备好的超高分辨率OCT (UHR-OCT) 系统与涂层设备接口.
• 在不同批量大小 (2公斤和30公斤) 的250和700μm颗粒的涂层过程中获得的实时线内数据.
• 进行了自动化涂层厚度评估,并将结果与参考测量 (喷涂涂层质量) 和基于图像的光学测量进行了比较.

主要成果:

• 在多颗粒物上成功测量了2.5至20微米的实时涂层厚度.
• 在UHR-OCT测量和参考数据之间取得了很好的一致性,特别是当粒子聚集量最小时.
• 证明了系统的稳定性,与批量大小的独立性以及适用于工业应用的适用性.

结论:

• 新型的UHR-OCT接口为制药多颗粒物涂层的在线监测提供了稳定和多功能解决方案.
• 这项技术可以准确地测量细颗粒上的薄涂层,这对于工艺控制和质量保证至关重要.
• UHR-OCT扩展了工艺分析技术的功能,为复杂的制药涂层工艺提供了实时洞察力.