评估纳米材料的电子显微镜测量中的粒子计数,以支持监管指导

Charlotte Wouters1, Vikram Kestens2, Eveline Verleysen3

  • 1Trace Elements and Nanomaterials, Groeselenbergstraat 99, Sciensano, Uccle, 1180, Belgium. charlotte.wouters@sciensano.be.

Scientific reports
|April 6, 2025
PubMed
概括

确定最小的纳米颗粒数量测量对于监管合规至关重要. 本研究提出了一种使用传输电子显微镜的方法,以找到最佳的粒子计数,以准确地描述尺寸和形状.