Leaky Scanning
LC Circuits
Detection of Gross Error: The Q Test
Difference from Background: Limit of Detection
Lumber Defects
您也可能阅读
通过共同作者、期刊和引用图与本文相关的文章。
Yazhou Li1, Yuanyuan Wang1, Jiange Liu2
1College of Computer and Software Engineering, Huaiyin Institute of Technology, Huaian, China.
本研究介绍了SCF-YOLO,这是一种用于实时检测印刷电路板 (PCB) 缺陷的轻型模型. 它显著减少了模型大小,并提高了检测速度,使其成为资源有限的工业应用的理想选择.
科学领域:
背景情况:
研究的目的:
主要方法:
主要成果:
结论: