Phase Contrast and Differential Interference Contrast Microscopy
Super-resolution Fluorescence Microscopy
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Ganesh Raghavendran1, Bing Han1,2, Fortune Adekogbe3
1Aiiso Yufeng Li Family Department of Chemical and Nano Engineering, University of California San Diego, La Jolla, California, USA.
这项研究引入了一种新的深度学习方法,用于分析电池研究中的传输电子显微镜 (TEM) 图像. 该方法自动化了阶段细分和组件检测,减少错误和节省时间.
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主要成果:
结论: