X-ray Crystallography
X-ray Diffraction of Biological Samples
您也可能阅读
通过共同作者、期刊和引用图与本文相关的文章。
Pengfei Lin1, Kuan Lu1, ChaBum Lee1
1J. Mike Walker '66 Department of Mechanical Engineering, Texas A&M University, 3123 TAMU, College Station, TX 77843-3123, United States.
一种新方法使用红外激光衍射模式来测量透过电路 (TSV) 的关键尺寸. 这种非破坏性技术为半导体计量挑战提供了低成本,高效的解决方案.
科学领域:
背景情况:
研究的目的:
主要方法:
主要成果:
结论: