SANS/FTIR-ATR

Yoshinobu Hirata1, Fumitoshi Kaneko2, Aurel Radulescu3

  • 11 The United Graduate School of Agricultural Science, Gifu University.

概括

粉逆行涉及使用小角度中子散射 (SANS) 和富里埃变换红外 (FTIR) 减弱总反射 (ATR) 的同时结构分析. 这揭示了阶段性的结构变化,从短距离顺序到纳米级半晶体结构.