Lucas Oorlynck1, Lenny Van Daele2, Alina Myslovska3
1Department of Electronics and Information Systems, Ghent University, Tech Lane Ghent Science Park - Campus A 126, Ghent, 9052, Belgium.
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一种新的小圆扫描光相关谱学 (sFCS) 方法增强了聚合物粒子分析. 这种技术有效地测量了在没有体积校准的情况下纳米颗粒上的聚合物吸附和稳定性.
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