:使

Guanlin Li1,2, Yao Hu1,2, Hao Wang1,2

  • 1School of Optics and Photonics, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, China.

概括

这项研究介绍了YOWO_SS3D,一种神经网络,用于使用模拟数据检测剪切图缺陷. 它在没有昂贵的实验数据的情况下实现了高精度 (96.99%),显著优于现有方法.

相关概念视频