您也可能阅读
通过共同作者、期刊和引用图与本文相关的文章。
Xinxiao Li1, Xian-Hua Han2, Yongqing Sun3
1Faculty of Information Science, Shonan Institute of Technology, 1-1-25 Tsujido Nishikaigan, Fujisawa City 251-8511, Japan.
半导体制造产生了大量的传感器数据. 一个新的系统,SDPC,使用交互式并行坐标图 (PCP) 进行实时分析,加快缺陷诊断和提高生产产量.
科学领域:
背景情况:
研究的目的:
主要方法:
主要成果:
结论: