通过反射方法从波导元件的背对背测量中提取散射参数
Songyuan Xu1, Jiwon Heo1, Chan-Soo Lee1
1School of Electric and Computer Engineering, Chungbuk National University, Cheongju 28644, Republic of Korea.
Sensors (Basel, Switzerland)
|April 12, 2025
概括
本研究介绍了一种简单的方法,用于通过背对背测量来提取波导元件的散射参数. 该技术简化了设备特征,需要更少的连接,并为组件设计提供准确的结果.
科学领域:
- 电气工程 电气工程
- 电磁学 电磁学 电磁学 电磁学
- 微波工程 微波工程
背景情况:
- 波导元件设计验证通常依赖于对联单元的背对背测量.
- 从这些测量中提取单个设备特征是具有挑战性的.
研究的目的:
- 介绍一种简单的方法来提取单个波导元件的散射参数.
- 为了从背靠背的测量中进行准确的表征.
主要方法:
- 使用背对背测量,使用最小的波导配对连接.
- 使用一个反射测量与偏移SHORT和两个传输测量与THRU配置.
- 在S参数提取方程中导出一个单一的条件,以确定最佳标准长度.
主要成果:
- 提出了一种用于提取波导元件的散射参数 (S参数) 的新方法.
- 该方法简化了测量过程,只需要三个连接.
- 数字模拟证明了该方法在宽带同轴到波导过渡中的有效性.
结论:
- 拟议的方法为波导元件表征提供了一种简单而有效的方法.
- 精确的S参数提取可以通过背对背测量来实现.
- 该技术有助于设计和验证新的波导元件.


