减小偏差校正的发射量II:电子显微镜的基于物理的贝叶斯优化

Desheng Ma1, Steven E Zeltmann2, Chenyu Zhang1

  • 1School of Applied and Engineering Physics, Cornell University, Ithaca, NY 14853, USA.

Ultramicroscopy
|April 12, 2025
PubMed
概括

我们开发了一种贝叶斯式方法,在扫描传输电子显微镜 (STEM) 中自动纠正偏差. 这种方法使用光束发射和深度神经网络来实现更快,更准确的原子级材料分析.