大型内置场和可调节的铁电在由反应喷射沉积的组合等级的ScAlN薄膜中
Tai Nguyen1, Anirban Ghosh1, Thang Duy Dao1
1Microsystem Division, Silicon Austria Labs GmbH, Villach, 9524, Austria.
Advanced science (Weinheim, Baden-Wurttemberg, Germany)
|April 25, 2025
概括
构成分级的化 (ScxAl1-xN) 薄膜限制异常的粒度生长,对于铁电器件至关重要. 这种方法实现了大型内置电场,提高了先进应用的材料特性.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 固态物理 固态物理
- 薄膜技术 薄膜技术
背景情况:
- 对强制场和异常粒度生长 (AOGs) 的控制对于在压电和铁电应用中石铁电ScxAl1-xN薄膜至关重要.
- 高Sc度通常会导致AOG和增加泄漏电流,对薄膜性能产生负面影响.
- 现有的方法通常需要广泛的流程优化来缓解这些问题.
研究的目的:
- 探索组成分级的ScxAl1-xN层结构作为控制AOG的一种方法.
- 调查组合分级对内置电场和铁电特性的影响.
- 建立一个可扩展和CMOS兼容的策略,用于改进ScxAl1-xN薄膜.
主要方法:
- 使用喷涂制造组成分级的ScxAl1-xN薄膜.
- 描述AOG密度,并与传统片进行比较.
- 测量内置电场和分析铁电特性 (P-E环,C-V特性,电流).
主要成果:
- 在没有过程优化的情况下,分级的ScxAl1-xN结构显著限制了AOG增长率低于8-10%.
- 实现了相当大的内置电场 (≈0.45 MV cm-1),大约是等级PZT和BST系统的2.5倍.
- 内置场引发了独特的现象:水平的P-E循环转移,双稳定的C-V状态和不对称的电流.
结论:
- 在ScxAl1-xN膜中的组合分级有效地抑制AOG并增强内置电场,主要是由于极化和化学梯度.
- 这种方法提供了一个简化,可扩展和CMOS兼容的路线来调整铁电性质.
- 这些发现为使用ScxAl1-xN的先进光子和MEMS设备铺平了道路,以提高性能和降低功耗.


