通过飞行时间二次离子质谱法 (tof-SIMS) 量化研究素

Xijuan Tan1

  • 1Laboratory of Mineralization and Dynamics, College of Earth Sciences and Land Resources, Chang'an University, 126 Yanta Road, Xi'an 710054, China.

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概括

这项研究验证了飞行时间二次离子质谱法 (tof-SIMS) 用于使用矩阵匹配校准来量化斯波杜中的元素. 该方法准确地确定了主要和次要元素,显示了微量元素分析的前景.