Guochen Wen1, Li Cheng1, Haiwen Yuan1

  • 1School of Electrical and Information Engineering, Wuhan Institute of Technology, Wuhan 430205, China.

PubMed
概括

本研究介绍了AMSFF-Net用于工业表面缺陷检测,提高突出物体检测 (SOD) 的准确性. 这种新型网络可以在复杂的背景下加强缺陷识别,其性能优于目前的方法.