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Guochen Wen1, Li Cheng1, Haiwen Yuan1
1School of Electrical and Information Engineering, Wuhan Institute of Technology, Wuhan 430205, China.
本研究介绍了AMSFF-Net用于工业表面缺陷检测,提高突出物体检测 (SOD) 的准确性. 这种新型网络可以在复杂的背景下加强缺陷识别,其性能优于目前的方法.
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主要成果:
结论: