概括
一个新的25带波器阵列成像系统提高了辐射温度测量的准确性和范围. 这种多光谱摄像头同时捕获光谱数据和辐射强度,以精确地绘制非接触温度分布图.
科学领域:
- 光学和光子学 在光学和光子学.
- 热力学是一种热力学.
- 图像系统的成像系统
背景情况:
- 准确的非接触温度测量在各种工业和科学应用中至关重要.
- 现有的方法往往面临范围,准确性或同时获取数据的局限性.
研究的目的:
- 开发和验证使用25带波器阵列成像系统的新型辐射温度测量技术.
- 为了提高动态热场的温度测量范围和精度.
主要方法:
- 使用CMOS传感器上的25频段过器阵列的多光谱摄像头,同时采集光谱和强度数据.
- 使用标准黑体源对系统进行校准,以建立仪器响应-辐射强度关系.
- 应用双算法来实现二维温度场分布和反转.
主要成果:
- 成功获得了丁火焰的二维温度分布.
- 达到0.65%的最大温度测量误差,扩展不确定性为2.98%.
- 确定了影响精度的关键因素:黑体校准,摄像头噪声,过器精度和算法优化.
结论:
- 25带波器阵列成像系统为高精度温度分布测量提供了一种新的非接触式方法.
- 通过增强校准源,信号噪声比,波器精度和算法优化,可以实现未来的改进.
- 这种技术为各种领域的先进热分析提供了巨大的潜力.


